HRC华锐昌TC660涂层测厚仪是一款便携式涂层测厚仪，它能快速，无损，精确地进行涂、镀层厚度的测量，被广泛地用于制造业，金属加工业，化工业、商检等检测领域，深圳市华锐昌科技有限公司作为专业的涂层测厚仪生产厂家，产品质量可靠、售后专业，为客户提供优质的产品及服务。http://www.hrckeji.com/

 

       TC660涂层测厚仪采用了两种测厚方法：磁性法、涡流法，即可测量磁性金属基体上非磁性涂镀层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电涂层的厚度。

 

       此款涂层测厚仪采用了液晶显示屏，超清屏幕显示，带背光，在光线很暗的场合依然正常使用，仪器界面全中文菜单，简单明了，具有单次、连续、二次测量方式。

 

       为了更好的使用TC660涂层测厚仪，下表列出了涂层测厚仪探头选用的技术数据，方便大家给仪器选择适用的探头，涂层测厚仪TC660选用探头技术数据表：

探头		F400	F1	F1/90	F10	N400	N1	CN02
测量原理		磁性				涡流
测量范围（μm）		0～400	0～1250		0～10mm	0～400	0～1250	10～200
测量精度μm	一点校准	±[(1～3)%H+0.7]	±（3%H+1）		±（3%H+10）	±（3%H+1）	±（3%H+1.5）	±(3%H+1)
	二点校准	±（1～3％H+0.7）	±[(1~3)%H+1]		±[(1～3)%H+10]	±[(1～3)%H+1]	±[(1～3)%H+1.5]	---
低限分辨率		0.1	0.1		1	0.1	0.1	1
最小曲率半径(mm)		(凸)1	1.5	平直	10	1.5	3	仅为平面
最小面积直径(mm)		￠3	￠7		￠40	￠4	￠5	￠7
基本临界厚度(mm)		0.2	0.5		2	0.3	0.3	无限制