漆膜仪也叫涂层测厚仪，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，当仪器受到一些自身和外界因素的影响，测量会受到严重的干扰，下面来看看有哪些因素影响着测量的精确度。

 

1、磁场的影响：周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作，外界恒磁场、电磁场和基体剩磁应该避免在有干扰作用的外界磁场附近进行测量，残存的磁场，根据检测器的性能可能导致或多或少的测量误差。

2、表面粗糙度的影响：基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响，软覆盖层试件在测量中可能会变形，因此也会影响精度，基体金属和覆盖层的表面粗糙程度越大，对测量精度的影响也就越大。

3、测头压力的影响：测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定，并应尽可能小，才不致使软的覆层发生形变，以致测量值下降。

4、基体金属电磁性质的影响：
      ①磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响，为了避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准，也可以用待涂覆试件进行校准。
      ②基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关，使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

5、试件变形对测量的影响：测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。

6、边缘效应的影响：测厚仪器对试件表面形状的陡变敏感，因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

7、附着物的影响：仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

8、测头放置方式及压力的影响：测头的放置方式对测量也是有影响的，在测量过程中，应当使测头与试样表面保持垂直，从而进行测量，测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。  

9、试件曲率对测量的影响：试件曲率对测量的影响总是随着曲率半径的减少明显地增大，因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

10、基体金属厚度的影响：每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度，测厚测量也受基体金属厚度的影响。
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